来源:http://www.leenoo.net/news/24.html发布时间:2019-08-06
IC(集成电路)测试是IC芯片从设计到流片,再到应用过程中非常重要的一环,不仅可以让半导体制造厂商节约大量的成本,而且测试的结果非常的可靠。半导体探针作为IC测试治具重要的一个物件,主要起到什么作用呢?小编这里为大家介绍一下其作用。
1、增强治具的耐用度
半导体探针的的设计使得其弹簧空间比常规探针的要大,所以能获得更长的寿命。
2、不间断电接触设计
行程超过有效行程(2/3行程)或者一般行程时都能够保持较低的接触阻抗,消除因半导体探针造成的假性开路造成的误判。
3、提高了测试精度
半导体探针因为更加精细,通常直径都是0.58mm以下,总长不超过6毫米,所以能够达到同规格产品更好的精准度。
IC测试冶具通用性高,只需更换颗粒限位框,即可测试尺寸不同的颗粒;采用超短进口双头探针设计,相比同类测试产品,可使IC和PCB之间的数据传输距离更短,从而保证测试结果更稳定,频率更高,DDR3系列频率可达2000MHz。